近日，Cadence设计系统有限公司宣布，凭借其的数据压缩以及成品率诊断性能，该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence Encounter Test通过为非专有的片上异或(XOR)测试数据压缩结构提供更广泛的支持，解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性，并支持使用一站式诊断流程。

       这种新型测试功能在输入端采用了基于XOR发散网络扇出的解压缩技术，而在输出端则使用带有可选的不定态屏蔽功能的XOR树状压缩技术。